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MAPS-TR反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統(tǒng)

采用“所見即所得”的測量方式,即反射與透射測量方式均能在直接觀測樣品成像時看到測量光斑,成像與測量光路通過電機切換。標準系統(tǒng)可滿足紫外/可見/近紅外波段的測試需求,對于特殊波段可進行優(yōu)化設(shè)計及光路定制。
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產(chǎn)品概述

反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統(tǒng)

Waynelabs3 的標準反射/透射光譜測試系統(tǒng),采用“所見即所得”的測量方式,即反射與透射測量方式均能在直接觀測樣品成像時看到測量光斑,成像與測量光路通過電機切換。標準系統(tǒng)可滿足紫外/可見/近紅外波段的測試需求,對于特殊波段可進行優(yōu)化設(shè)計及光路定制。

系統(tǒng)原理示意圖
*此圖為簡化原理示意,不代表實際光路
 
典型數(shù)據(jù)圖

基本功能

· 白光反射譜及Mapping成像;

· 白光透射譜及Mapping成像;

· 電動變偏振采譜;(可選)

· 適配低溫臺、電學(xué)樣品臺等;(可選)

· 共聚焦方式和科勒照明方式;(可選)

· 透射光譜無色散設(shè)計;(可選)

· 入射及收集光路均可配置雙口電動切換。(可選)

應(yīng)用場景

光學(xué)材料的能級及振動強弱信息探測

· 半導(dǎo)體材料的帶隙探測;

· 無機光學(xué)材料的吸收特性研究;

· 貴金屬納米材料的表面等離激元共振特性研究;

· 光學(xué)材料的基礎(chǔ)光譜表征。

反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統(tǒng)典型參數(shù)配置

測試光源: 光纖耦合鹵素燈;自由空間鹵素燈(可選)

支持光譜范圍: 250 nm - 850 nm;400 nm - 1100 nm;900 nm - 1700 nm

空間分辨率: < 1 mm

電動位移行程: 50 mm × 50 mm × 40 mm

掃描精度: < 1 mm,步進最小 0.04 mm

偏振控制: 電動

測量方式: 反射和透射

光路切換方式: 電動,軟件控制

物鏡組: 5X,10X,20X,50X,100X可見光物鏡;反射式物鏡,紅外長焦物鏡等可選

照明光源: 高顯色LED面光源

光譜采集: 光纖光譜儀;光柵光譜儀(可選)

軟件功能:移動視場,切換物鏡,對焦,框選掃描區(qū)域均可用鼠標直接在圖像顯示窗口操作;電動功率調(diào)整;自動光路模式切換;自動化Mapping;自動化偏振Mapping;實時處理與顯示數(shù)據(jù)。